总结：本文由华算科技整理，以实例演示的方式，详细介绍了Digital Micrograph（DM）软件在TEM图像分析中的基本操作与核心功能、关键分析操作及位错分析流程，同时提及软件安装包与学习资料包的获取。
读者可学习到Digital Micrograph处理TEM图像的标准化操作方法，了解如何利用该软件完成图像编辑、晶面间距定量测量及位错识别，为高效开展TEM结果分析、满足科研绘图与数据解读需求提供可直接复用的实操方案。
Digital Micrograph（DM）是一款专业的电镜图像分析软件，本文通过实例向大家演示该软件的基本用法和常用功能。
01
教程简介
图1. 文献中常见的HRTEM图例
Adv. Mater. 2012, 24, 2567-2571
文献中常见的HRTEM图片如上图所示，本文将通过一个实例处理一张和文献类似的HRTEM图片。
02
操作步骤
▍导入数据
将HRTEM文件拖入软件窗口即可打开，注意不是.tif或.jpg等图片格式文件哦，测试的时候务必让测试人员提供给你源文件（.dm3格式）
▍软件界面
图2. 打开文件后软件界面
▍图片缩放
按住鼠标中间上下滚动，可以对图片进行缩放
图3. 对图像进行缩放
▍调整scale bar大小
使得图片在拼图或投稿时，scar bar清晰可见
图4. 调整scale bar大小
▍绘图功能
可以在图片上进行标注图形、文字等
图5. 图形注释
▍局部放大图
轻松搞定，并在放大图中有独立的scale bar
图6. 局部放大
▍保存修改
可以将编辑后的图片另存为dm3或.tif等格式
图7. 保存修改后的图像
导出后图片效果如下
图8. 修改后效果
【视频大小约8M】鼠标中间滚动可放大、缩小
▍点击Profile
图9. Profile工具
▍在条纹清晰的区域画一条垂直于条纹的线
图10. Profile工具使用
▍双击线条，设置宽度
图11. Profile工具设置
▍通过调整如下矩形区域，可以提高调整精度（调整矩形上下两边平行于条纹）
图12. Profile工具
▍这时Profile Of HRTEM窗口的图形如下，各个柱形图高度越接近，测出的条纹间距值越可靠
图13. Profile of HRTEM
▍鼠标左键在窗口中拽出如下区域即可显示出距离，建议测量10个周期的距离，如下所示的条纹间距3.472 ÷ 10 = 0.3472 nm
图14. 测量晶面间距
▍晶面间距注释
图15. 图8基础上标注晶面间距
C. 位错分析
▍点击ROI工具
图16. ROI工具
▍按住Alt键，再图片上选一个区域，如下图
图17. ROI工具
▍点击Process下的FFT
图18. FFT工具
▍傅里叶变换后显示如下
图18. FFT工具
▍点击SpotMask工具
图19. SpotMask工具
▍绿色区域对准“亮斑”
图20. 区域调整
▍点击Process下的Apply Mask
图21. Apply Mask
▍弹出到如下所示窗口
图22. SpotMask工具
▍点击Process下的Reduced FFT
图23. Reduced FFT
▍这样就显示出选区的位错情况了
图24. 位错分析结果
（右上角为结晶良好的区域）
本文源自微信公众号：微算云平台
原文标题：《TEM图像分析丨仅需几步，搞定Digital Micrograph基本操作》
原文链接：https://mp.weixin.qq.com/s/nWZFpGOaAX8oNm53OWlr7Q?search_click_id=994913835736678334-1757923729688-9461869426&click_id=19
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